SciAps представляет собой единственный анализатор сплавов на основе LIBS, работающий в испытательной установке «двойного горения». Просто выберите требуемую область применения.
SciAps представляет собой единственный анализатор сплавов на основе LIBS, работающий в испытательной установке «двойного горения». Просто выберите требуемую область применения.
Сплав: Продувка аргоном для получения высокой точности и улучшенных пределов обнаружения. Многие пользователи используют продувку аргоном для анализа и продажи готового к переработке алюминиевого лома. Определите низкие уровни бериллия и бора в промилле.
Быстрая сортировка методом Quicksort: Использование метода подгара для быстрой сортировки материалов или определения их сорта.
Устройство Z-901 для анализа сплавов проводит измерение 15-20 элементов в 7 основных сплавах, включая алюминий, нержавеющую сталь, железо, медь, титан, никель и кобальт. Другие основные сплавы могут быть добавлены за небольшую плату, или пользователи могут добавлять свои собственные калибровки.
Требуется измерить содержание лития в сплавах? Используйте устройство серии Z-902 с расширенным диапазоном до 625 нм для измерения выделения Li.
Необходимо измерить содержание углерода в сталях и нержавеющей стали, а также проверить нержавеющую сталь классов L и H – Устройство SciAps Z-902 C во всем мире используется для измерения содержания углерода и других элементов в сталях, нержавеющей стали и никелевых сплавах.
Имеется портативный XRF — и вам нужно только добавить измерение содержания углерода? Используйте устройство Z-901 CSi, сверхкомпактный анализатор, который измеряет содержание C и Si в сталях и нержавеющей стали.
Спектроанализатор LIBS дополняет портативное устройство XRF, поскольку он особенно хорош при измерении элементов с низким атомным числом, включая те элементы, слишком легкие для портативного устройства XRF.
Литий в рудах и рассолах.
Легкие элементы в почвах и рудах, полный набор, включая такие элементы, как Li, Be, B, C, F и Na.
Измерение общего содержания органического углерода в сельском хозяйстве.
Измерение содержания бериллия в почве или других материалах как загрязнителя окружающей среды.
Серия Z-900 оснащена нашим программным пакетом ProfileBuilder для настольных ПК и планшетов, который позволяет добавлять элементы, создавать калибровки и применять расширенную спектральную обработку.
Разработка методов испытаний для выполнения уникальных аналитических задач или работ для контроля качества.
Академический инструмент для исследователей и студентов. Спектроанализатор LIBS не требует использования рентгеновского излучения или соответствующих нормативных требований.
Для проведения судебно-криминалистической экспертизы, и анализа небольших участков (100 мкм), программное обеспечение ProfileBuilder представляет собой мощный и универсальный метод полевого анализа.
Model | Spectrometers | Range | Elements Analyzed |
---|---|---|---|
Z-901 | 1 spectrometer | 200 – 420 nm | Factory calibrated with suites of 15-20 elements, app dependent. For some elements, model 902 or 903 is required. |
Z-901 CSi | 1 spectrometer | 190 – 240 nm | Analyzes carbon and silicon only. The perfect complement to your XRF. |
Z-902 | 2 spectrometer | 190 – 625 nm | Adds emissions for Li, Na |
Z-903 | 3 spectrometer | 190 – 950 nm | Adds emissions for H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs and S |
Заводские калибровки не включают в себя все элементы, но предусматривают набора из 15-20 элементов в зависимости от области применения. Также, в заводские калибровки не входят нестабильные и радиоактивные элементы. Пределы обнаружения сильно различаются в зависимости от элемента и типа образца.
Подключите любой прибор серии Z к устройству XRF для получения оптимального анализа по каждому элементу периодической таблицы и каждому типу образцов..
Устройство XRF отлично подходит для анализа переходных и тяжелых металлов. Простота в использовании, особенно при анализе сыпучих, грунтовых и рудных материалов.
Libs анализирует элементы, недоступные для XRF, такие как: Li, Be, B, C, F, Na и другие. Улучшенная производительность для анализа Mg, Ca, K по сравнению с XRF. Микроанализ с размером лазерного пятна в 100 мкм.