Анализатор серии Z-300 LIBS

Любой элемент Периодической таблицы за секунду в ваших руках.​

Лазерный Z-300 делает то, что всегда было невозможно для портативных анализаторов. Наш лазерный “пистолет” измеряет каждый элемент периодической таблицы от Н до U. Z-300 использует тот же лазер, что и Z-200, но с расширенным спектральным диапазоном от 190 нм до 950 нм. Данный диапазон позволяет измерять эмиссионные линии элементов H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs и S. Эти линии не может измерить Z-200. Z-300 также измеряет более чувствительную линию для Лития (Li) для достижения пределов обнаружения в диапазоне 2-5 ppm. Z-300 также измеряет более чувствительную и чистую от помех линию для Калия (K). Более традиционные линии калия имеют значительные помехи от железа, тогда как линия, используемая Z-300, не имеет таких помех.
Z-300 находит большой спектр применений для разведки полезных ископаемых, включая литий как в твердой породе, так и в соляных растворах. Он также используется в области научных исследований, судебной экспертизы, криминалистики, аутентификации, археологии, разведки нефти и газа, поиска золота и полиметаллов благодаря широкому диапазону измеряемых элементов.
Как и в Z-200, лазерный импульс, подготовка поверхности, настройки спектрометра контролируются Пользователем. Анализатор имеет полноценное программное обеспечение для изменения всех настроек, сравнения спектральных данных и формирования калибровочных кривых. Z-300 имеет ту же ОС Android и интуитивно понятный пользовательский интерфейс, что и все другие модели анализаторов SciAps.

Analytical Range

One or more lines from all elements in periodic table

Spectrometer/Range

190 nm – 950 nm

Измеряет каждый элемент периодической таблицы

от H to U

Z-300 для полевой геохимии

Портативный ЛИЭС Z-300 – это новейшая технология, которая находит применение в горнодобывающей и геологоразведочной отраслях. Z предлагает две важные функции, недоступные для традиционного портативного рентгено-флуоресцентного метода.
1. Z анализирует элементы, которые невозможно определять с помощью портативных рентгено-флуоресцентных анализаторов (РФА), включая Литий (Li), Бериллий (Be), Бор (B), Углерод (C), Фтор (F) и Натрий (Na). 2. Z также выполняет микроанализ в поле, что недоступно ни с каким другим анализатором. Диаметр лазерного луча составляет 100 мкм, а Z может растрировать лазер с дискретным шагом в двух измерениях. Это обеспечивает визуализацию определенных областей горных пород или, другими словами, можно создавать “тепловые” карты распределения элементов в пробе. Z лучше работает на низких концентрациях базовых металлов, включая легкие Mg и Al, по сравнению с РФА. Узнайте больше о наших ЛИЭС анализаторах для геохим-ой промышленности
Анализ лития в полевых условиях с помощью портативного ЛИЭС прибора.

Объемные пробы и микроанализ

Z – единственный в мире портативный анализатор, предлагающий элементный микроанализ материалов. Пользователи могут настроить сетку растра, используя точечный размер пятна размером 100 мкм для элементного отображения по точкам. Для массивных образцов программой Z может быть задан средний результат для каждой точки растра для получения результата объемной выборки. Такая функция работает и на наших портативных рентгено-флуоресцентных XRF анализаторах серии X.


* Данные рентгеновского флуоресцентного микрозонда (XFM) австралийского синхротрона любезно предоставлены Шоном Баркером (Университет Вайкато) и Джереми Воганом (Баррик).
heat-map1

Картина рентгеновской флуоресценции (XFM) для Fe. Портативный LIBS анализатор SciAps теперь позволяет проводить целенаправленный микроанализ геологических образцов в полевых условиях.

heat-map2

Соответствующая карта распределения элементов LIBS анализатора для Fe показывает отличную корреляцию с картой XFM.

The 3 “Must Have’s” for Handheld LIBS

1

Обдув аргоном

Z – это портативный ЛИЭС со встроенной системой продувки. Пользователь может менять мини баллончики самостоятельно. Работа в аргоновой среде увеличивает интенсивность импульсов в 10x или более раз, что особенно важно для замеров в глубоком УФ (190 нм – 300 нм), где измеряется большинство элементов. На рисунке показаны два спектра, полученные на образцах нержавеющей стали, с аргоном и без него, демонстрирующие большое отличие интенсивности сигналов. Также доступны большие баллоны на пояс (в 4 раза больше стандартного минибаллончика). Пользователи также могут подключать Z к промышленным стандартным стационарным аргоновым резервуарам с нашим дополнительным пакетом, состоящим из адаптера, регулятора и шланга.

Могу ли я использовать Z-300 без аргона? Да. Все наши анализаторы LIBS могут работать с аргоном или без него или с функцией стробирования спектрометра или без нее.
Однако, вам необходимо использовать наше программное приложение ProfileBuilder для построения калибровочных кривых в режиме воздух.

Argon-Door-animation
2

Лазерная технология очистки поверхности – Автоматизирует подготовку образцов, предлагает профилирование по глубине

Z отличает новейший режим очистки поверхности, автоматический или настраиваемый Пользователем в зависимости от применения. В режиме зачистки лазер стреляет мощными импульсами 5-6 мДж/имп. с частотой 50 Гц (50 обжигов/сек), то есть 5 очищающих обжигов каждые 0.1 сек. Пользователь может настроить количество очищающих импульсов. После очищающих импульсов Z стреляет лазером в те же самые точки и уже получает спектральные данные для анализа. Для металлических образцов, которые могут иметь окалину или поверхностные загрязнения, по умолчанию предустановлено 10 очищающих выстрелов. Для почв и минералов обычно необходимо меньше. Очищающие выстрелы могут использоваться и для глубокого профилирования, к примеру, если нужно проанализировать более глубокие слои образца или пройти сквозь покрытие. Фокусировка лазера контролируется программой, таким образом, тестирование продолжается и “на глубине” материала.

Z300PagePlot-6061Ca_time

Пример зачистки поверхности лазером Z.
Дополнительные выстрелы, сделанные с частотой 50 Гц, выжигают поверхностный слой, позволяя анализировать лежащий под ним объемный материал.

3

Растрируемый лазер 2D + регулировка Фокуса

Большинство научных публикаций подтверждает, что наилучшая воспроизводимость ЛИЭС анализатора достигается с помощью растрирования лазера, когда результаты множества точек усредняются. Z со своей портативной технологией шагнул еще дальше в этом направлении. Он имеет встроенную платформу, передвигающую лазер в двух XY направлениях, плюс регулировка фокуса – в третьем Z-направлении. В дополнение к заводским установкам сетки растра для специфических приложений (сплавы, геохимия и т.д.) Пользователь может задать свой собственный шаблон растра. Можно проводить линейное сканирование или анализ одной определенной точки, например, при исследовании минеральных жил и включений. Диаметр луча лазера примерно 50 микрон. Z включает в себя осветительное волокно, которое при выравнивании с растровым рисунком освещает место, где будет создаваться плазма. Благодаря программно-управляемому изменяемому фокусу пользователь может получать аналитические результаты в зависимости от толщины образца.

Характеристики

Вес

1,9 кг с батареей

Габариты

8.25″ x 11.5″ x 4.5″

Сохранение данных

Результаты хранятся на внутренней памяти SD карты 16 GB

Получение спектральных данных

Спектральные данные собираются в режиме открытого или закрытого строба. Стробирование может настраиваться Пользователем.

Передача данных

Wifi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к любым электронным устройствам, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК, MAC.

Питание

Анализатор поставляется с перезаряжаемыми литий-ионными батареями, зарядным устройством и адаптером для питания и зарядки батареи от сети.

Источник возбуждения

5-6 Мдж/импульс, 50 Hz частота повторения, 1064 нм лазерный источник

Эксплуатация/Продувка аргоном

Заменяемые встроенные баллоны с аргоном для точного анализа 1 баллона хватает на 100 тестов измерения углерода и 600 тестов для обычных замеров

Безопасность

Защита доступа паролем и внутренняя защита паролем для администрирования.

Лазерное растрирование

XY платформа передвигает лазер в 2 направлениях. Растрирование лазера обеспечит усреднение результатов множества точек. Область растрирования 16 x 16 точек, 256 местоположений.

Управляющая электроника

Процессор: ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2 GHz Память: 1 GB DDR2 RAM, 1 GB NAND

Нормативы и сертификаты

CE, RoHS, USFDA регистр. Класс безопасности лазера 3b. Сенсор наличия образца позволяет приравнивать работу по классу безопасности Class 1, требования по безопасности зависят от страны использования. Внесен в Реестр Средств Измерений РФ, ТР ТС, Гост-Р.

Проверка калибровки

Встроенный в анализатор контрольный образец сделан из 316 нержавеющей стали для полностью автоматической рекалибровки по длине волны.

Коррекция дрейфа

Требуется только для анализа углерода в стали с высокой точностью (с продувкой аргоном). Автоматическая коррекция дрейфа проводится с помощью заводских или пользовательских контрольных образцов.

Доступные приложения

Сплавы, Геохимия (горное дело), Железные руды, Эмпирические, Экологические приложения. Новые приложения регулярно добавляются и обновляются, пожалуйста, свяжитесь с поставщиком для получения информации.

Видео/фото документирование

Встроенная фото и видео камера для просмотра образца до, во время анализа для уточнения места анализа.

Авто-фокус

Z-направляющая платформа контролируется вручную или автоматически, подстраивая фокусировку лазера в определенной точке анализируемого образца. Необходимо для анализа жидкостей.

Дисплей

5 дюймовый цветной тачскрин дисплей c поддержкой PowerVR SGX540 3D graphic