X-50 XRF Анализатор

Классическая модель анализатора для множества применений за бюджетную цену

X-50 оснащен полупроводниковым PiN детектором. Эта технология была популярна в прошлом до появления кремниевых дрейфовых детекторов. Технология PiN обрабатывает сигналы от элементов в 10×20 раз хуже, чем кремниевые дрейфовые детекторы, и имеет разрешение на 100 эВ меньше (большая ширина). Однако для многих применений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или анализ базовых, или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках, анализ драгметаллов, баббитов, RoHS и.т.д технология PiN детектора является вполне приемлемой. X-50 НЕ будет измерять Mg, Al или Si, а в некоторых материалах может измерить P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения для некоторых элементов будут в 5 раз выше по сравнению с моделями анализаторов X c дрейфовым детектором SDD. Однако X-50 имеет привлекательную цену и отлично работает для многих задач. X-50 включает ту же самую современную рентгеновскую трубку, что и другие модели X-серии, (работающие с напряжением 40 кВ), встроенную фотокамеру и платформу Android OS. X-50 применим для сплавов, экологического мониторинга и анализа почв на содержание тяжелых металлов, горно-геологических применений, связанных с добычей и переработкой полезных ископаемых, анализа лома драгметаллов и отходов электроники и др. Анализаторы можно откалибровать на заводе по фундаментальным параметрам, нормализации Комптона (для EPA Method 6200) или использовать пользовательские эмпирические калибровки.

Металлы и сплавы

Базовая сортировка нержавеющей стали, высоких температур и красной латуни. Сортировка алюминиевых сплавов только по MLC, 2000 и 7000.
Узнайте больше о наших XRF-анализаторах для ломоперерабатывающей промышленности

Геохимия и почвы

Тот же набор элементов, что и X-100, но со старой технологией диодного детектора PiN. Для достижения такой же точности, как у X-100, время тестирования будет требовать больше времени, но платформа X-50 имеет более низкую стоимость.
Узнайте больше о наших XRF-анализаторах для геохимической промышленности

Анализируемые элементы

Применение
Луч 1 (40 kV)
Луч 2 (10 kV)
Луч 3 (50 kV)
Геохим горный
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb
N/A
N/A
Геохим почвы
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb
N/A
N/A
Сплавы
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb
N/A
N/A
Драгметаллы
Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb
N/A
N/A

Характеристики

Вес

1,5 кг с батареей

Габариты

18″x 25,5″x 10,16″

Скорость счета импульсов

15 000 имп./сек

Калибровка

Фундаментальные параметры для режимов Сплавы и Геохимия/Экология/Почвы. Для режима Почвы Пользователь может выбрать метод нормализации по Комптону или использовать эмпирические калибровки.

Передача данных

Wifi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к любым электронным устройствам, включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК, MAC.

Питание

Анализатор поставляется с перезаряжаемыми литий-ионными батареями, зарядным устройством и адаптером для питания и зарядки батареи от сети.

Источник возбуждения

6-40kV, 200uA Rh анод для сплавов, 6-50kV, 200uA Au для любых других задач

Дисплей

5 дюймовый цветной сенсорный дисплей c поддержкой PowerVR SGX540 3D graphic

Безопасность

Защита доступа паролем и внутренняя защита паролем для администрирования.

Температурный диапазон

От -20 до +50 градусов по Цельсию

Управляющий компьютер

Процессор ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2GHz Memory: 1GB DDR2 RAM, 1GB NAND хранение данных: 16GB SD

Нормативы и сертификаты

CE, RoHS, USFDA registered, Canada RED Act, ГОСТ-Р, ТР ТС, внесен в Госреестр средств измерений РФ.

Импульсный процессор

14-разрядный АЦП с частотой оцифровки 80 MSPS 8K каналов MCA USB 2.0 для высокоскоростной передачи данных на главный процессор Цифровая фильтрация, реализованная в FPGA для высокопроизводительной импульсной обработки 50nS – 24uS пиковое время

Детектор

Активная площадь 7 мм2 полупроводниковый PIN детектор), разрешение <180 эВ, по К альфа линии Марганца FWHM 5.95.

Проверка калибровки

Для контроля калибровки используется встроенный образец из 316 нержавеющей стали, который является также защитным затвором. Энергетическая калибровка полностью автоматизирована.