Как работает XRF – рентгеновская флуоресцентная спектроскопия
Рентгеновская флуоресценция (XRF) – это неразрушающий аналитический метод, используемый для определения концентраций элементов в различных материалах.
How XRF Works – X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Ниже представлена краткая информация по работе РФА анализатора
Измеряет каждый элемент Периодической таблицы от H to U
Атомный уровень
ONE – Все атомы имеют фиксированное количество электронов. Эти электроны расположены на орбиталях вокруг ядра. Энергодисперсионный XRF (EDXRF) обычно улавливает активность на первых трех электронных орбиталях, линиях K, L и M.
TWO – All atoms have a fixed number of electrons. These electrons are arranged in orbitals around the nucleus. Energy Dispersive XRF (EDXRF) typically captures activity in the first three electron orbitals, the K, L, and M lines.
THREE – All atoms have a fixed number of electrons. These electrons are arranged in orbitals around the nucleus. Energy Dispersive XRF (EDXRF) typically captures activity in the first three electron orbitals, the K, L, and M lines.
FOUR – All atoms have a fixed number of electrons. These electrons are arranged in orbitals around the nucleus. Energy Dispersive XRF (EDXRF) typically captures activity in the first three electron orbitals, the K, L, and M lines.
The Atomic Level
ONE – All atoms have a fixed number of electrons. These electrons are arranged in orbitals around the nucleus. Energy Dispersive XRF (EDXRF) typically captures activity in the first three electron orbitals, the K, L, and M lines.
ONE – All atoms have a fixed number of electrons. These electrons are arranged in orbitals around the nucleus. Energy Dispersive XRF (EDXRF) typically captures activity in the first three electron orbitals, the K, L, and M lines.
Результаты можно просматривать в виде процентов или в виде спектра. XRF будет обрабатывать (оцифровывать, считать) около 200 000 или более рентгеновских снимков каждую секунду. Эти обнаруженные рентгеновские лучи формируют спектр. Каждый пик в спектре взят из характерного рентгеновского излучения, испускаемого конкретным элементом, таким как Cr или Ni и т. Д. Высота пика пропорциональна концентрации элемента. Высота пика преобразуется в процент или ppm этого элемента с помощью метода калибровки – либо фундаментальных параметров, либо заводских или пользовательских эмпирических калибровок
Interference
Elemental analysis techniques experience interferences that must be corrected or compensated for in order to achieve adequate analytical results. In XRF Spectrometry, the primary interference is from other specific elements in a substance that can influence (matrix effects) the analysis of the element(s) of interest. However, these interferences are well known and documented; and, instrumentation advancements and mathematical corrections in the system’s software easily and quickly correct for them. In certain cases, the geometry of the sample can affect XRF analysis, but this is easily compensated for by selecting the optimum sampling area, grinding or polishing the sample, or by pressing a pellet.
